Index der Messgrößen

Längenmesstechnik
 
 
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Die Zwei-Strahl-Ionenfeinstrahlanlage (FIB)

DLR-Institut für Werkstoff-Forschung

Eine Zwei-Strahl-Ionenfeinstrahlanlage (Focused Ion Beam /Dual Beam, FIB/SEM) ist eins der vielseitigsten Werkzeuge, das für die Material- und Werkstoff-Forschung verfügbar ist. Sie kombiniert ein Rasterelektronenmikroskop mit einer Ionensäule. Diese erlaubt, analog zum Rasterelektronenmikroskop, die Abbildung der Probenoberfläche mit Sekundärelektronen und –ionen. Bei geeigneter Wahl der Parameter kann mit dem Ionenstrahl Material abgetragen werden.

Koordinaten-Messmaschine (Wenzel LH108)

DLR-Institut für Bauweisen und Strukturtechnologie

CNC gesteuerte Portalmessmaschine Berührendes Messverfahren. Aufnahme der Messpunkte durch antasten mit einem Renishaw-Messtaster. Messsystem: Inkremental-Maßstäbe Auflösung: 0,0005mm Messunsicherheit: 0,0025mm+( L mm/250 mm ).

 
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