Index der Messgrößen

Oberflächendeformation
 
 
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ARAMIS System zur 3D-Messung von Verformungen einer Oberfläche (ARAMIS)

DLR-Institut für Faserverbundleichtbau und Adaptronik

Die zu vermessende Oberfläche wird mit einem Graustufenmuster versehen. Von der Oberfläche werden im unverformten und im verformten Zustand Stereophotographien gemacht. Die optische Abbildung der Stereokameras wird püber eine Kalibrierung sehr genau bestimmt. Über eine numerische Mustererkennung kann aus den Bildern mittels der Kalibrierdaten die Oberflächenkontur in 3D Koordinaten bestimmt werden.

Image Pattern Correlation Technique (IPCT)

DLR-Institut für Aerodynamik und Strömungstechnik

Für die Messung wird ein feines Muster von zufällig verteilten Punkten auf die zu untersuchende Oberfläche aufgebracht. Dies kann durch Aufsprühen von Farbe oder durch Aufkleben von bedrucken Folien erfolgen [1,2]. Das Muster wird von mindestens einer Videokamera vor und nach einer Deformation der Oberfläche aufgezeichnet. Durch die Bewegung der Oberfläche verschieben sich die Punktemuster lokal im Bild der Kamera abhängig von der Aufnahmegeometrie.

Projected Pattern Correlation (PROPAC)

DLR-Institut für Aerodynamik und Strömungstechnik

Die Projected Pattern Correlation (PROPAC) Technik ist ein berührungsloses 3D Messverfahren, das Deformationen von diffus streuenden Oberflächen räumlich vermessen kann. Die erzielbare Messgenauigkeit kann dabei weniger als ein Mikrometer betragen. Mit PROPAC ist es möglich, die Oberfläche von Objekten absolut in Raumkoordinaten als Differenz zu einer definierten Referenzoberfläche zu bestimmen.

Reflected Pattern Correlation (REPAC)

DLR-Institut für Aerodynamik und Strömungstechnik

Die Reflected Pattern Correlation (REPAC) Messtechnik stellt eine Erweiterung der PROPAC Messtechnik auf reflektierenden Oberflächen dar. Eine ortsfeste Kamera ist auf die zu vermessende Oberfläche gerichtet und nimmt aufgrund der Reflexion indirekt das Bild eines ebenfalls ortsfesten Schirms mit dem aufgedruckten Muster auf. Der Vergleich dieser Aufnahme mit der Aufnahme des an einer Referenzoberfläche reflektierten Musters ergibt eine Verschiebung in der Bildebene.

 
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Ähnliche Messgrößen

Nachfolgend finden Sie Referenzen zu Datenblättern in MessTec, welche mit hoher Wahrscheinlichkeit ähnliche Messgrößen beschreiben. Die Auswahl basiert auf einem semantischen Vergleich: