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Index der Messgrößen

Oberflächenprofil von eben Materialien wie Optiken
 
 
Ergebnisse 1-1 von 1

Kraftmikroskopie (AFM)

Institut für Technische Physik

Abrasterung von Oberflächen nach dem Prinzip der Kraftmikroskopie.

 
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Ähnliche Messgrößen

Nachfolgend finden Sie Referenzen zu Datenblättern in MessTec, welche mit hoher Wahrscheinlichkeit ähnliche Messgrößen beschreiben. Die Auswahl basiert auf einem semantischen Vergleich:

  • Atmosphärendruckplasma zur Oberflächenaktivierung
  • Dreidimensionale Vermessung von Oberflächen
  • Einspannvorrichtung für Flachproben 0 bis 26 mm Dicke
  • Erdoberflächen-Temperatur
  • Fläche
  • Geschwindigkeit, flächenhaft in zwei Komponenten
  • Höhenprofil einer Oberfläche
  • Mechanische und chemische Oberflächenerosion
  • Oberflächendeformation
  • Oberflächendruckverteilungen
  • Oberflächenform
  • Oberflächengeschwindigkeit
  • Oberflächengeschwindigkeiten
  • Oberflächenstruktur
  • Oberflächentemperatur
  • Oberflächenverformung mittels DIC-System Aramis
  • Oberflächenwärmeübergangsverteilungen
  • Oberflächenzusammensetzung
  • Oberflächetemperatur
  • Porenverteilung, Spez. Oberflächen
  • Spezifische Oberflächen, Dispersionsgrad
  • Spezifische Oberflächen, Oxidationszustand
  • zusätzlich Messung der Oberflächenverformung mit DIC Aramis