Index der Messgrößen

Oberflächenstruktur
 
 
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Oberflächenanalytik (XPS, UPS, LEED, TPD)

DLR-Institut für Technische Thermodynamik

Die Messmethoden erfordern Ultrahochvakuum. Mit Hilfe von Röntgenstrahlung mit fester Energie werden Photoelektronen von der zu untersuchenden Probe emittiert. Das Röntgenphotoelektronenspektrum liefert Informationen über die Elementzusammen-setzung und deren Bindungszustand in einem Tiefenbereich von einigen Nanometer der Oberfläche. Ebenso erhält man Informationen über Adsorbate auf den Probenoberflächen.

Rasterelektronenmikroskopie (SEM / EDX)

DLR-Institut für Technische Thermodynamik

Bei der Rasterelektronenmikroskopie wird die Oberfläche mit einem feinfokussierten Elektronenstrahl abgerastert. Die Sekundärelektronen und die rückgestreuten Elektroden liefern die Informationen über die Topologie. Ausserdem gibt es einen Materialkontrast in Abhängigkeit der Atommasse, bzw. der Austrittsarbeit. Durch die hochenergetischen Elektroden wird zusätzlich auch Röntgenstrahlung von der Probe emittiert.

 
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Ähnliche Messgrößen

Nachfolgend finden Sie Referenzen zu Datenblättern in MessTec, welche mit hoher Wahrscheinlichkeit ähnliche Messgrößen beschreiben. Die Auswahl basiert auf einem semantischen Vergleich: