Index der Messgrößen

Oberflächenzusammensetzung
 
 
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Oberflächenanalytik (XPS, UPS, LEED, TPD)

DLR-Institut für Technische Thermodynamik

Die Messmethoden erfordern Ultrahochvakuum. Mit Hilfe von Röntgenstrahlung mit fester Energie werden Photoelektronen von der zu untersuchenden Probe emittiert. Das Röntgenphotoelektronenspektrum liefert Informationen über die Elementzusammen-setzung und deren Bindungszustand in einem Tiefenbereich von einigen Nanometer der Oberfläche. Ebenso erhält man Informationen über Adsorbate auf den Probenoberflächen.

Röntgenphotoelektonenspektroskopie (XPS, LEED)

DLR-Institut für Technische Thermodynamik

Die Messmethoden erfordern Ultrahochvakuum. Mit Hilfe von Röntgenstrahlung mit fester Energie werden Photoelektronen von der zu untersuchenden Probe emittiert. Das Röntgenphotoelektronenspektrum liefert Informationen über die Elementzusammensetzung und deren Bindungszustand in einem Tiefenbereich von einigen Nanometern der Oberfläche. Die Beugung langsamer Elektronen (LEED) liefert das Beugungsbild der Oberfläche.

 
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Nachfolgend finden Sie Referenzen zu Datenblättern in MessTec, welche mit hoher Wahrscheinlichkeit ähnliche Messgrößen beschreiben. Die Auswahl basiert auf einem semantischen Vergleich: