Kraftmikroskopie (AFM)

Messgrößen

  • Oberflächenprofil von eben Materialien wie Optiken

Prinzip

Abrasterung von Oberflächen nach dem Prinzip der Kraftmikroskopie

Anwendung

Untersuchung der Feinstruktur von Oberflächen mit nm Auflösung

Institut / Einrichtung

DLR-Institut für Technische Physik

Kontakt

Gabriele Taube
DLR-Institut für Technische Physik

Dr. phil. nat. Dorothee Maria Rück
Technologiemarketing

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