MessTec - Die Messtechnik- und Anlagendatenbank des DLR

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Pulschemisorption, Temperatur-programmierte Desorption, Reduktion und Oxidation (BET, Chemisorption, TPD, TPR, TPO)

DLR-Institut für Technische Thermodynamik

Bei der Pulschemisorption wird ein reaktives Gas auf die Probe gepulst. Aus der chemisorbierten Gasmenge wird die aktive Oberfläche bestimmt. Bei TPD-Messungen wird in einem Inertgasfluß durch lineare Temperaturerhöhung das Adsorbat desorbiert und die Menge des Adsorbats bestimmt. Die Temperatur liefert Information über die Stärke der Bindung.

Rasterelektronenmikroskopie (SEM / EDX)

DLR-Institut für Technische Thermodynamik

Bei der Rasterelektronenmikroskopie wird die Oberfläche mit einem feinfokussierten Elektronenstrahl abgerastert. Die Sekundärelektronen und die rückgestreuten Elektroden liefern die Informationen über die Topologie. Ausserdem gibt es einen Materialkontrast in Abhängigkeit der Atommasse, bzw. der Austrittsarbeit. Durch die hochenergetischen Elektroden wird zusätzlich auch Röntgenstrahlung von der Probe emittiert.

Röntgendiffraktometrie (XRD)

DLR-Institut für Technische Thermodynamik

Detektierung der Interferenzen bei der Bestrahlung (Bragg-Bretano), bzw. Durchstrahlung (Transmission) von Oberflächen mit Röntgenstrahlen..

Röntgenmikroanalyse (EDX), Zusatzgerät zum REM

DLR-Institut für Technische Thermodynamik

Bei der Röntgenmikroanalyse wird, wie beim REM, die zu untersuchende Probe mit einem Elektronenstrahl bestrahlt. Dabei entsteht, neben Sekundärelektronen, auch Röntgenstrahlung, die charakteristische Spektrallinien der einzelnen Elemente der Probe enthält. Diese Strahlung wird nach der Energie ihrer Quanten zerlegt. Die Strahlungsleistung ist ein gut eichbares Maß für die quantitative Analyse.

Röntgenphotoelektonenspektroskopie (XPS, LEED)

DLR-Institut für Technische Thermodynamik

Die Messmethoden erfordern Ultrahochvakuum. Mit Hilfe von Röntgenstrahlung mit fester Energie werden Photoelektronen von der zu untersuchenden Probe emittiert. Das Röntgenphotoelektronenspektrum liefert Informationen über die Elementzusammensetzung und deren Bindungszustand in einem Tiefenbereich von einigen Nanometern der Oberfläche. Die Beugung langsamer Elektronen (LEED) liefert das Beugungsbild der Oberfläche.

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